进行化学元素分析检测，特别是对金属元素分析最擅长，也能分析B、P、As等非金属元素。  

无论实验室规模大小，NexION 2000技术上的创新都会为您提供独到的支持。

最强的质谱干扰消除能力提供最好的检出能力

简单而可靠的第二代通用池技术（Universal Cell Technology™）提供三路气体通道和三种池操作模式消除质谱干扰，更灵活，更优异。

一台几乎无需维护的ICP-MS

新一代无需更换的射频（RF）线圈设计，独特的实现对离子牢牢控制从而实现最干净质谱分析系统的设计，使

NexION 2000避免了几乎所有的维护要求。

LumiCoilTM 技术 – 革命性的，全新的RF线圈设计，等离子体耦合效率更高，无需水冷或气冷，寿命更长。

三锥接口（Triple Cone Interface）– 独有的超锥设计，实现业界最紧凑离子束。三锥位于真空腔外，维护快速简单。

四极杆离子偏转器（Quadrupole Ion Deflector）– 实现离子束90度偏转后进入通用池（Universal Cell ），过滤不

带电物质，减少背景和干扰，从而实现更准确结果。

专利的三锥接口（Triple Cone Interface ）和四极杆离子偏转器（Quadrupole Ion Deflector）结合，实现离子束的高效控制与聚焦，使NexION 2000成为唯一不需要清洗或更换碰撞反应池的ICP-MS。

每次分析，获得最佳工作效率

与其他ICP-MS系统不同，NexION2000具有电子稀释技术（EDR）,可以让您调谐离子传输，从而在一次样品运行时，实现高低含量同时分析。这扩大您的分析动态线性范围至12个数量级，优化了您工作效率的同时保护了检测器的使用寿命。

为获得更好的准确性和更低的检出限，反应池模式下的专利动态带宽调谐技术（Dynamic Bandpass Tuning）使您可以调整离子质量带宽，高效去除干扰物母离子的同时将分析物离子的传输效率最大化。

NexION 2000具有功能强大的针对不同干扰的工作模式，预置的分析方法让您轻松应对各类分析挑战。

无惧基体，表现优异

NexION 2000 强大的全基体进样系统（AMS），无需手动稀释，实现高固体溶解含量样品分析。

全基体进样系统（AMS）智能稀释您的样品，让您在保持分析高固体溶解含量样品的灵活性同时仍能分析高低含量元素，减少样品重复分析。

PerkinElmer技术专家们为NexION 2000打造的全固态、自激式射频发生器提供更稳定的等离子体，仪器的耐受性得到进一步加强。新一代的革命性LumiCoil工作线圈技术实现高效等离子体耦合，且无需水冷或气冷，使用寿命超长。

更多的进样系统选择

NexION 2000 ICP-MS的全能表现贯穿您的分析工作。您可根据特定应用，选择不同颜色标记的SMARTintro™进样模块。

带有AMS的高基体进样系统（绿色）—— 在分析高固体含量样品时，使用氩气获得超过100倍稀释，从而最小化基体抑制和降低样品在锥上的沉积。

带有AMS和SC-FAST的高通量高基体进样系统（黑色）—— 在不损失灵敏度的情况下可以获得两倍或三倍的样品通量。

高纯度SilQ石英进样系统（白色）或耐HF进样系统（白金色）—— 半导体领域获得超低检出限的两种选择。